讲座主题：卡尔蔡司X 射线显微镜及场发射扫描电镜技术及最新应用
主讲嘉宾：曹春杰 X射线显微镜 高级资深应用技术专家
        邱婷婷 场发射扫描电镜 资深应用技术专家
讲座时间：2019年9月17日(周二) 14：00-16：30
讲座地点：食品科学与技术国家重点实验室111室
内容摘要：X射线显微镜（XRM）可用来在原位环境下以无损的方式表征材料的3D内部形貌特征，还可以观察微观结构随时间（4D）变化的演变过程，是高等研究机构跨时代的新型科研利器.同时场发射扫描电镜系列产品（FESEM）具有出色的探测效率， 能够轻松地实现亚纳米级分辨率的成像，提供更高的表面细节信息灵敏度让科研具备更高的样品灵活性。
联系方式：测试中心业务室 张爽  电话：0510-85919611
欢迎感兴趣的师生积极参与！

分析测试中心         

实验室与设备管理处      

2019年9月9日