有关学院（单位）：

日常的测试工作中，常常会因为无法做出漂亮的基线而烦恼，有时会对如何分辨及解读图谱一筹莫展，错误的数据和虚假的图谱对测试会产生危害。为及时发现隐藏在数据和图谱里的真相，TA仪器公司邀请我校教师参加于4月28日在上海举办的测试技术讲座。讲座安排如下：

1、主要内容：

如何正确又巧妙地安排热分析测试；如何准确地分析及解读热分析数据；仪器精度所带来的图谱差异；新技术对传统材料分析产生的影响。

2、时间：2015年4月28日（星期二）9:00-16:15。

3、地点：上海西藏大厦万怡酒店（徐汇区虹桥路100号）3楼会议室。

4、演讲专家：

许炎山先生，TA仪器资深应用技术经理。曾先后任职于台湾台塑集团的南亚塑料公司第六轻油裂解计划ABS厂研发专员,与台湾化学纤维公司的ABS建厂专员,累积丰富的流变学与热分析技术在产业界与学术界之相关应用经验,并且也拥有超群的仪器实际操作能力。

马倩博士，TA仪器热分析技术专家。美国Tufts大学凝聚态物理博士，毕业于美国顶尖热分析实验室。有着多年高分子热分析表征以及X射线散射理论和实验研究经历。

李润明博士，TA仪器流变技术专家。上海交通大学材料学博士。主要研究方向是聚合物流变学，在材料表征分析和测试领域具有丰富的经验。是少数能结合流变理论、实际操作和产业经验流变专家。

5、其它：

联系人：TA仪器市场部王小姐，电话：021-34182128，传真：021-64951999，Email：vwang@tainstruments.com。

该讲座全程免费，座位有限，请尽快报名参加。

实验室与设备管理处

2015年4月13日