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2019大仪前沿技术讲座之三—X 射线显微镜及场发射扫描电镜技术及最新应用

发布日期:2019/09/09 14:22:09 浏览次数: 来源:  


讲座主题:
卡尔蔡司X 射线显微镜及场发射扫描电镜技术及最新应用
主讲嘉宾:
曹春杰 X射线显微镜 高级资深应用技术专家
        
邱婷婷 场发射扫描电镜 资深应用技术专家
讲座时间:2019917(周二) 1400-1630
讲座地点:
食品科学与技术国家重点实验室111
内容摘要:
X射线显微镜(XRM)可用来在原位环境下以无损的方式表征材料的3D内部形貌特征,还可以观察微观结构随时间(4D)变化的演变过程,是高等研究机构跨时代的新型科研利器.同时场发射扫描电镜系列产品(FESEM)具有出色的探测效率, 能够轻松地实现亚纳米级分辨率的成像,提供更高的表面细节信息灵敏度让科研具备更高的样品灵活性。
联系方式:
测试中心业务室 张爽  电话:0510-85919611
欢迎感兴趣的师生积极参与!

 

分析测试中心         

实验室与设备管理处      

201999日         

 

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